隨著科技的(de)發展，手(shou)(shou)機更新換代的(de)非常快，手(shou)(shou)機做為(wei)人們(men)(men)日常生活(huo)不可(ke)缺少(shao)的(de)通信(xin)工具，在向(xiang)市場上大量出售前，需要做整(zheng)(zheng)機可(ke)靠性測試(shi)，以全方位保(bao)障手(shou)(shou)機的(de)品質與人們(men)(men)的(de)使用安全。那么手(shou)(shou)機整(zheng)(zheng)機可(ke)靠性測試(shi)需要做哪些(xie)項目呢？下面劍喬儀器小編為(wei)大家仔細講解下手(shou)(shou)機整(zheng)(zheng)機可(ke)靠性測試(shi)的(de)試(shi)驗(yan)項目以及相關測試(shi)標準。

一(yi)：手機整機環境可靠(kao)性(xing)測試

由于手(shou)機(ji)是移動(dong)設備(bei)，這就決定了它(ta)隨時會(hui)面臨冬(dong)天的嚴寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而(er)高(gao)低溫環(huan)境測(ce)(ce)試(shi)(shi)就是為了避免手(shou)機(ji)產生嚴重失效(xiao)現象而(er)進行的測(ce)(ce)試(shi)(shi)。最為容易想象的就是高(gao)低溫環(huan)境測(ce)(ce)試(shi)(shi)，它(ta)會(hui)給予手(shou)機(ji)一個初始測(ce)(ce)試(shi)(shi)狀態如待機(ji)、關機(ji)或(huo)者(zhe)充電，定時檢(jian)查手(shou)機(ji)在測(ce)(ce)試(shi)(shi)中的狀況。

1）高低(di)溫環境(jing)測試

高低(di)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)是(shi)高溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)和(he)低(di)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)的的簡稱，試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)目的是(shi)評價(jia)高低(di)溫(wen)條件對裝(zhuang)(zhuang)備在存(cun)儲和(he)工作期間的性能(neng)影響(xiang)。高低(di)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)的試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)條件、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)實(shi)施、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)步驟在GJB 150.3A一2009《軍(jun)用裝(zhuang)(zhuang)備試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)室(shi)環境試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法高溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)》與GJB 150.4A—2009《軍(jun)用裝(zhuang)(zhuang)備試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)室(shi)環境試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法低(di)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)》中都有詳(xiang)細的規(gui)定(ding)。

2）鹽霧(wu)測試

鹽(yan)霧箱(xiang)條(tiao)件： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕(shi)熱箱(xiang)條(tiao)件：＋40+2°，93+3％RH，持續時間48H。

3）ESD測試

手(shou)機(ji)在接充(chong)電器和(he)不接充(chong)電器的情況下(xia)，分別測試手(shou)機(ji)在常用(yong)使用(yong)狀(zhuang)態(tai)下(xia)的ESD 性(xing)能，待機(ji)和(he)通話狀(zhuang)態(tai)是必須要測試的狀(zhuang)態(tai)。 

接觸放(fang)(fang)電(dian)為(wei)±6KV,對(dui)裸露的金屬(shu)件（如(ru)導電(dian)裝飾圈、裝飾牌不(bu)同的位置）、水平(ping)耦合板、垂直耦合板連(lian)續(xu)放(fang)(fang)電(dian)各 10次后對(dui)地放(fang)(fang)電(dian),要求：LCD 顯示和通話狀況應(ying)良好，應(ying)無數據丟失和功能損壞等；接觸放(fang)(fang)電(dian)每(mei)點每(mei)個測試電(dian)壓連(lian)續(xu)放(fang)(fang)電(dian) 10次(加嚴(yan)測試±20 次)。 

空氣放電(dian)±10K，對翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫、受話器、免提接口、I/O口、主機按鍵及主機底殼等處(chu)進行放電(dian)，被選(xuan)點每點每個測(ce)試電(dian)壓放電(dian)10 次(加嚴測(ce)試±20 次)，每放電(dian)一次需對地放電(dian)，要求LCD顯示和(he)通話狀況應良(liang)好(hao)，應無數據(ju)丟失和(he)功能損壞。 

完成(cheng)后作好記錄。所需(xu)手機數為(wei)2 部。 

外置天(tian)線 ESD 測試(shi)要求(qiu)：天(tian)線電(dian)鍍裝飾要求(qiu)測試(shi)接觸(chu)放(fang)電(dian)±8KV，空氣放(fang)電(dian)±15KV，不允許(xu)出(chu)(chu)現破壞性問題（出(chu)(chu)現重啟或(huo)重裝電(dian)池(chi)不可(ke)恢復的問題） 

參考標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電(dian)磁兼容試(shi)驗(yan)和測量技術靜電(dian)放電(dian)抗(kang)擾度試(shi)驗(yan)  

YD/T 1539-2006移動通信(xin)手持(chi)機(ji)可靠性技術要求(qiu)和測試方法。

4）極限溫度充電測(ce)試

5）溫(wen)升(sheng)測(ce)試

二、手(shou)機整(zheng)機機械類可靠性測(ce)試

這(zhe)類測試大多數屬于(yu)破壞性的(de)(de)測試，我(wo)(wo)們可(ke)以理(li)解成測試產品的(de)(de)一(yi)個極限狀態。簡單的(de)(de)說就是看(kan)看(kan)產品的(de)(de)可(ke)靠度(du)(du)，比如10厘米的(de)(de)微(wei)跌(die)測試，對手機(ji)的(de)(de)正面和反面各微(wei)跌(die)200次，手機(ji)LCD不(bu)能出(chu)現白(bai)點或者白(bai)斑(ban)，TP滑動功(gong)能全領域有效，如果測試通(tong)過我(wo)(wo)們認為該產品在(zai)這(zhe)方面具(ju)備(bei)可(ke)靠度(du)(du)。

1）跌落測(ce)試

分定(ding)向跌落、自由(you)跌落、重復跌落、滾筒(tong)跌落四種跌落方(fang)式。

試(shi)驗樣(yang)(yang)機插(cha)SIM 卡，并裝(zhuang)配電池，手機處于正常工作狀態(tai)。將樣(yang)(yang)品(pin)放置在垂(chui)直跌(die)落(luo)試(shi)驗儀上，將高度調到 1.0m ，進(jin)行垂(chui)直跌(die)落(luo)測(ce)(ce)(ce)試(shi)。每個面(mian)各測(ce)(ce)(ce) 2 次(ci)，共(gong)跌(die)落(luo)12 次(ci)。跌(die)落(luo)測(ce)(ce)(ce)試(shi)后，首先對樣(yang)(yang)品(pin)進(jin)行外觀(guan)、功能(neng)，結(jie)構檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，記錄測(ce)(ce)(ce)試(shi)狀態(tai)后，再(zai)進(jin)行拆機檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)。

試(shi)驗樣機(ji)插SIM 卡，并(bing)裝配電池，手(shou)機(ji)處于正常工作狀態。 將樣品放置在 0.5m 的(de)滾筒跌落試(shi)驗機(ji)中，進(jin)行(xing)跌落測(ce)(ce)試(shi)，每 50 次(ci)對(dui)手(shou)機(ji)的(de)外觀，功(gong)能，結構(gou)做(zuo)檢測(ce)(ce)，累計(ji)跌落300 次(ci)循環(huan)。 測(ce)(ce)試(shi)完成后，對(dui)手(shou)機(ji)進(jin)行(xing)功(gong)能，結構(gou)，裝配檢測(ce)(ce)（要(yao)求必須拆機(ji)檢查(cha)）。

2）軟(ruan)壓測試

將(jiang)手機(ji)正(zheng)面朝上，放置(zhi)在支撐部件(jian)的(de)(de)中(zhong)心位置(zhi)上，樣品處(chu)于開機(ji)狀態(tai)并鎖(suo)住鍵(jian)盤。彈性擠壓頭以 25kg 的(de)(de)力、每(mei)分鐘 15～30 次(ci)的(de)(de)頻率擠壓樣品中(zhong)間部位1000次(ci)，分別在400、600、800、1000 次(ci)進(jin)(jin)行外(wai)觀(guan)檢查和話音通信檢查，外(wai)觀(guan)、功能(neng)應正(zheng)常(chang)，話音通信應能(neng)正(zheng)常(chang)進(jin)(jin)行。測試結束后進(jin)(jin)行功能(neng)、外(wai)觀(guan)及裝(zhuang)配檢測應無(wu)異常(chang)。

3）硬(ying)壓(ya)測(ce)試

4）小球沖(chong)擊

5）水波紋(wen)測試

6）USB/耳機接口(kou)推力(li)測(ce)試

7）正弦振動測試(shi)

    振動頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度(du)(du)頻譜密度(du)(du))：0.96m2/S3 持續時(shi)間: 每方向1小時(shi)(x,y,z三個(ge)方向)。 試驗過程中檢(jian)查手機(ji)有(you)無掉卡(ka)、關機(ji)等不良現象，測試結(jie)束(shu)后功能檢(jian)查應無異常。

8）沙塵實驗

9）包裝(zhuang)振(zhen)動

三(san)、手機(ji)整機(ji)壽(shou)命類測試(shi)

    實際(ji)研(yan)制過程中，壽(shou)命測試(shi)一般為加(jia)速(su)壽(shou)命測試(shi)，以便(bian)縮短(duan)測試(shi)周期，降低生產(chan)成本，讓產(chan)品在短(duan)時間內盡可能暴露產(chan)品的缺陷，評(ping)估產(chan)品的穩定(ding)性。

1）SIM/T卡(ka)/內存卡(ka)接入和拔出測試

   ; 插(cha)入(ru)SIM 卡(ka)再(zai)取(qu)出(chu)，累計1000 次。每插(cha)拔50 次開機(ji)檢查一次，手機(ji)不(bu)能有不(bu)識卡(ka)現象，測(ce)試完畢手機(ji)功能應正常。

    插(cha)入內存(cun)(cun)卡(ka)(ka)再取出，累計 1000 次。不支持(chi)熱插(cha)拔(ba)的機(ji)型，每插(cha)拔(ba) 100 次開機(ji)檢(jian)查一(yi)次，支持(chi)熱插(cha)拔(ba)的機(ji)型必須在開機(ji)狀態下測試，每插(cha)拔(ba) 100 次檢(jian)查一(yi)次，要(yao)求測試后(hou)存(cun)(cun)儲(chu)卡(ka)(ka)結構(gou)正常（不能(neng)破裂），手機(ji)無不識卡(ka)(ka)問題，內存(cun)(cun)卡(ka)(ka)中的內容不可丟失。

2）USBUSB/耳機接口接入和(he)拔出測試

    將(jiang)耳(er)機(ji)(ji)垂(chui)(chui)直(zhi)插(cha)入耳(er)機(ji)(ji)孔(kong)后，再垂(chui)(chui)直(zhi)拔出(chu)，如此(ci)反復，累計 3000 次。功能(neng)應正常。

插入(ru)數據線再拔(ba)下，累計3000次。每(mei)插拔(ba)100次開機(ji)檢查(cha)一次，手機(ji)功能應正常(chang)。

3）按(an)鍵測(ce)試

    以 40~60 次(ci)(ci)/分(fen)鐘的(de)速度(du)，不小于 10N 的(de)力(li)度(du)均勻按鍵(jian)(jian)，Dome：15 萬(wan)次(ci)(ci)以上(shang)；Switch：10 萬(wan)次(ci)(ci)；多維導(dao)航(hang)鍵(jian)(jian)：6 萬(wan)次(ci)(ci)。每2萬(wan)次(ci)(ci)檢查1次(ci)(ci)。Slide：1.5 萬(wan)次(ci)(ci)；試驗后功能應正(zheng)常(chang)。

4）觸摸屏點擊測試

    將(jiang)手(shou)機(ji)固定在點(dian)(dian)擊測試儀器上， 用固定在尖端的(de)隨機(ji)手(shou)寫筆，加載 150g 的(de)力，對(dui)(dui)觸摸屏點(dian)(dian)擊25 萬次(ci)， 每5 萬次(ci)對(dui)(dui)屏幕進(jin)行檢查并清潔(jie)；手(shou)機(ji)處于待機(ji)狀態；測試完畢后，觸摸屏表面(mian)無損傷，功能正常。點(dian)(dian)擊速率(lv)：約1 次(ci)/秒

5）觸(chu)摸屏劃線測(ce)試

    將手(shou)機固(gu)定(ding)在劃(hua)(hua)線(xian)測(ce)試儀器上， 用手(shou)機自帶(dai)的手(shou)寫(xie)筆(bi)沿觸(chu)摸(mo)屏(ping)的對(dui)角線(xian)進(jin)行劃(hua)(hua)線(xian)測(ce)試，劃(hua)(hua)線(xian)壓(ya)力為150g 力， 測(ce)試次數10 萬次 （反(fan)復來(lai)回為 2 次），每1 萬次對(dui)觸(chu)摸(mo)屏(ping)功能、結(jie)構和外觀進(jin)行檢測(ce)，并對(dui)觸(chu)摸(mo)屏(ping)進(jin)行清潔。測(ce)試結(jie)束后，觸(chu)摸(mo)屏(ping)功能應(ying)正常，外觀無損傷（劃(hua)(hua)痕）。 （劃(hua)(hua)線(xian)速度：約30mm/秒）

6）聽(ting)筒(tong)壽(shou)命(ming)測試(shi)

  &nbsp; 使(shi)用0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時內無異(yi)常(chang)現象。

7）馬(ma)達測(ce)試

8）揚聲器(qi)測試

9）受話器(qi)測(ce)試

四、手機整機表面處理(li)類(lei)測試

1）紙帶/羊毛(mao)氈耐(nai)磨測(ce)試

    使用多功能耐磨儀器，羊毛氈，施加 1000g 的力(li)，在產品表面(mian)(mian)（有表面(mian)(mian)處理工藝）以 40 次/分(fen)鐘～60 次/分(fen)鐘的速度，以 30mm 左右的行(xing)程，在樣本表面(mian)(mian)來回磨擦，測試 2000 次(1000 個循環)后 觀察外觀。

2）硬度測試

    觸摸屏硬度(du)測試，用三菱(ling)牌 2H 鉛筆劃(hua)(hua)產(chan)品(pin)表(biao)面，在 45°的角度(du)，以 500g的力度(du)在被測殼表(biao)面劃(hua)(hua)兩筆劃(hua)(hua)刻后用橡皮擦試后檢查應無(wu)明顯劃(hua)(hua)痕(hen)。

3）噴涂百格測試

4）耐醇性(xing)測試

5）化妝品測(ce)試(shi)

6）耐壓(ya)測(ce)試(shi)

7）振動耐(nai)磨測試。

五、手機整機三防測試

    區別于傳統的三防(fang)(fang)(fang)“防(fang)(fang)(fang)霉菌、防(fang)(fang)(fang)潮濕(shi)、防(fang)(fang)(fang)鹽霧”，手機(ji)整機(ji)的三防(fang)(fang)(fang)測(ce)試(shi)主要為防(fang)(fang)(fang)塵、防(fang)(fang)(fang)水、防(fang)(fang)(fang)跌落(luo)震動測(ce)試(shi)。

    如防(fang)塵(chen)可(ke)靠性(xing)測(ce)試(shi)(shi)(shi)，將手機放置(zhi)在(zai)粉(fen)塵(chen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)內(nei)， 樣品體(ti)積綜合(he)不得超過試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)有效(xiao)空間的 1/3，底面積不得超過有效(xiao)水平在(zai)積的 1/2；與實驗(yan)箱(xiang)內(nei)壁距(ju)離應不小于(yu) 100mm。啟動粉(fen)塵(chen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)，使氣(qi)流(liu)能夠(gou)將灰塵(chen)均勻緩慢地沉降在(zai)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品上，最大值不得超過 2m/s。測(ce)試(shi)(shi)(shi)時間到后，將手機在(zai)粉(fen)塵(chen)箱(xiang)內(nei)靜(jing)置(zhi) 2H，進行功(gong)能、外觀(guan)及裝配檢測(ce)。

六(liu)、 國內手(shou)機可靠性測試方面的主要標(biao)準(zhun)

1）GB/T 15844.2-1995 移動通信(xin)調(diao)頻無線電(dian)話機環(huan)境要求和(he)試驗方法(fa)。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數字蜂(feng)窩移(yi)動(dong)一動(dong)通信網通用分組無限業務設備測試方法：移(yi)動(dong)臺。

3）GB/T 15844.3-1995 移(yi)動(dong)通信調頻無(wu)線(xian)電話(hua)機可靠性要求和試驗方法。 

4）YD/T 965-1998  電(dian)信終端設備的安全(quan)要(yao)求(qiu)和試驗方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數字900/1800MHz TDMA 數字蜂窩移動通信(xin)系統電磁(ci)兼容性限值(zhi)和測量方法(fa)  第一(yi)部分(fen)：移動臺及其輔助設備。

對手(shou)機整(zheng)機進(jin)行(xing)可靠(kao)性(xing)測(ce)試，需要(yao)對測(ce)試過程(cheng)的(de)(de)(de)失效現象進(jin)行(xing)分析，因此(ci)在測(ce)試過程(cheng)中應把手(shou)機的(de)(de)(de)失效現象準確詳(xiang)細的(de)(de)(de)描述(shu)出來十分重要(yao)，從而才能(neng)便(bian)于后續分析、改進(jin)設計(ji)，為提(ti)高手(shou)機可靠(kao)性(xing)、耐(nai)久性(xing)。更多(duo)詳(xiang)細資料歡迎(ying)咨詢廣東劍喬【劍喬儀器】廠家 官網：gjnk.com.cn