可(ke)(ke)靠(kao)性試(shi)(shi)驗主(zhu)要(yao)的(de)(de)目的(de)(de)是(shi)對各類(lei)產(chan)品(pin)(pin)進行各類(lei)環境應(ying)力的(de)(de)篩選來激(ji)發產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)故障從而提供產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)可(ke)(ke)靠(kao)性水(shui)平。我們所(suo)說的(de)(de)可(ke)(ke)靠(kao)性試(shi)(shi)驗，主(zhu)要(yao)是(shi)指產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)可(ke)(ke)靠(kao)性壽命試(shi)(shi)驗，可(ke)(ke)通(tong)過(guo)可(ke)(ke)靠(kao)性壽命試(shi)(shi)驗了解產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)壽命特征和失(shi)效(xiao)規律，并計算出產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)失(shi)效(xiao)率(lv)和平均(jun)霧故障時間。

MTBF，即平均無故障工作時間(jian)，英文全稱(cheng)是“Mean Time Between Failure”。是衡量一個產(chan)品(pin)的指標(biao)。單位為(wei)“小時(shi)(shi)”。它反映了產(chan)品(pin)的時(shi)(shi)間(jian)質量，是(shi)體現(xian)產(chan)品(pin)在規定時(shi)(shi)間(jian)內保持功能的一種能力。具體來(lai)說(shuo)，是(shi)指相(xiang)鄰(lin)兩次故(gu)障(zhang)之(zhi)間(jian)的平均工作時(shi)(shi)間(jian)，也(ye)稱為(wei)平均故(gu)障(zhang)間(jian)隔(ge)。
 

可靠性壽命(ming)試(shi)驗通常選取的典型環境(jing)應力有：高(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)、高(gao)溫(wen)(wen)低(di)溫(wen)(wen)交(jiao)替、恒定(ding)濕(shi)熱、交(jiao)變濕(shi)熱、振(zhen)動試(shi)驗、環境(jing)溫(wen)(wen)度等。

一(yi)、做MTBF可靠性試(shi)驗需要提供哪些資料：

1、產品的相關使用說明書(shu)

2、產品的(de)電路板電子元器件清單

3、產品的(de)工作狀態說明

4、可靠(kao)性試驗大綱

5、可(ke)靠(kao)性(xing)指標的(de)考(kao)核要求和具體方法(fa)

6、可靠性試驗大綱(gang)中明確具體要求的測試時間和允(yun)許的責任故障數。

二、可(ke)(ke)靠性試(shi)驗采用哪些(xie)可(ke)(ke)靠性方案：

1、序貫試驗方案

2、定時結尾試(shi)驗方(fang)案

3、全(quan)數試驗方(fang)案(an)

三、可靠性(xing)試(shi)驗的(de)應力選擇(ze)：

用的最多的是(shi)(shi)溫度應(ying)(ying)力(li)，其次是(shi)(shi)振動應(ying)(ying)力(li)和(he)電(dian)應(ying)(ying)力(li)綜(zong)合的情(qing)況(kuang)。也有采(cai)用純電(dian)應(ying)(ying)力(li)進行(xing)連續通電(dian)運(yun)行(xing)試驗的情(qing)況(kuang)，但是(shi)(shi)這種(zhong)情(qing)況(kuang)用得較少。

四、可靠性(xing)試驗樣品臺數的(de)選擇：

對于可靠性鑒定試驗(yan)最少(shao)的樣品為(wei)2臺(tai)(tai)，對于可靠性驗(yan)收試驗(yan)，每批次至少(shao)2臺(tai)(tai)，最多不超過20臺(tai)(tai)。

五(wu)、可靠(kao)性(xing)壽命(ming)試(shi)驗MTBF的指標是什么？

一般的技術(shu)要(yao)求(qiu)或者招(zhao)標文件(jian)中會明確(que)提出(chu)，例如要(yao)求(qiu)MTBF≥5000小時(shi)等(deng)字樣(yang)。

六、可(ke)靠性試(shi)驗MTBF壽(shou)命試(shi)驗一般(ban)需(xu)要(yao)多久(jiu)的測試(shi)周期？

這個根據(ju)選擇的檢測標準測試方案以及(ji)產品的臺數(shu)(shu)而定。大(da)多數(shu)(shu)在100小時以上。

七、相(xiang)關(guan)檢(jian)測標準：

可靠性(xing)試(shi)驗(yan) 第 1 部(bu)分(fen)：試(shi)驗(yan)條件(jian)和統計檢(jian)驗(yan)原(yuan)理 GB/T5080.1-2012，，IEC 60300-3-5:2001

可靠(kao)性試驗 第(di) 2 部分：試驗周期設計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

設備可靠性(xing)試(shi)驗 可靠性(xing)測(ce)定試(shi)驗的點(dian)估計和區(qu)間估計方法 (指數分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

設(she)備可靠性(xing)試驗成功率的(de)驗證試驗方案 GB/T5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982

設備可靠性試驗(yan) 恒定失效(xiao)率假(jia)設的有效(xiao)性檢驗(yan) GB/T5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989

設備可靠性試驗 恒定失效(xiao)率假(jia)設下的失效(xiao)率與(yu)平均無(wu)故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978

軍用通(tong)信(xin)設備通(tong)用規范 GJB 367A－2001

軍用計算機(ji)通用規范 GJB 322A-1998

可靠性鑒(jian)定和驗(yan)收(shou)試驗(yan) GJB 899A-2009